1. Electromigration and electronic device degradation
پدیدآورنده : edited by Aris Christou
موضوع : Integrated circuits - Deterioration,Semiconductors - Failures,Electrodiffusion
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
2. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
4. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E.A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7871
.
85
.
A49
1987
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
5. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E. A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : ، Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
852
.
A47
1997
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
6. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده : Amerasekera, E. A
موضوع : ، Semiconductors-- Failures
۴ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
7. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده : Viswnadham, Puligandla
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Electrical packaging-- Defects,، Semiconductors-- Failures
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1997
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
8. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده : Viswanadham, Puligandla.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Defects ، Electronic packaging,Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1998
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
9. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Osamu Ueda
موضوع : Gallium aresnide semiconductors - Reliability,Semiconductors - Failures,Light emitting diodes - Reliability,Crystals - Defects
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
10. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده : Ueda, Osamu
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Semiconductors - Failures , Light emitting diodes - Reliability , Crystals - Defects
رده :
TK
7871
.
85
.
U33
1996
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
11. #Semiconductor device and failue analysis
پدیدآورنده : #Wai Kin Chim
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Semiconductors- Failures ،Semiconductors- Testing ،Semiconductors- Microscopy ،Photon emission
رده :
#
TK
،#.
C47
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
12. Semiconductor device and failure analysis using photon microscopy
پدیدآورنده : / by Wai Kin Chim
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors- Failures,Semiconductors- Testing,Semiconductors- Microscopy,Photon emission
رده :
TK7871
.
85
.
C47
2000
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
13. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : / B.P. Richards and P.K. Footner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع : Semiconductors-- Testings,Semiconductors- Failures,Microscops and microscopy
رده :
621
.
381520287
R514r
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
14. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده : Richards, B. P.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes
رده :
TK
7871
.
85
.
R464
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)